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氧化鋯分析儀探頭老化的原因和癥狀

氧化鋯分析儀探頭老化的原因和癥狀

      通常我們所指的探頭老化是指氧化鋯分析儀檢測器的老化,主要表現在內阻升高和本底電勢增大這兩項上:

一、內阻升高

       實際運用中,探頭老化引起的內阻增大較多。內阻是指信號線兩端間的輸入電阻,它是引線電阻、電極與氧化鋯分析儀間界面電阻及氧化鋯分析儀體積電阻三部分之和,因此,電極揮發、電極脫落和氧化鋯分析儀電解質的反穩(由穩定氧化鋯分析儀變為不穩定氧化鋯分析儀),都將引起內阻升高。測量檢測器內阻,可以判斷其老化情況。根據經驗,當內阻增大到接近其使用極限時,將出現信號大跳動現象,有些反應為響應遲緩的現象。對于這些檢測器,其本底電勢不一定很大。
二、本底電勢增大
       本底電勢是電池附加電勢。引起本底電勢增大的因素有兩種:一種屬于永存因素,它寄生的電池上,如SO2和SO3的腐蝕作用、電池不對稱因素;另一種屬于暫存因素,如電極各灰、空氣對流差等因素,一旦條件改善,本底電勢便可降低。本底電勢的變大,往往反映檢測器的老化程度,當E0值超過分析儀的*大調節量時,就說明檢測器已經損壞。
三、舉例說明:

       一個氧化鋯分析儀,出廠時的E0為-5mV,其允許變化范圍為0—-30mV,使用半年后,變為-13mV;使用18個月后為:-29mV;這種情況就表明,此檢測器已經老化,需要更換。需要注意的是,有些氧化鋯分析儀檢測器的老化表現在本底電勢變大上,而有些檢測器雖然老化,但卻沒有這種現象,所以我們需要認真分析對待。當本底電勢變大的原因是由暫存因素引起時,隨著使用時間的推移,則有可能出現本底電勢先變大,再變小的現象。由于本底電勢增大而導致探頭老化的數量比內阻增大數量要少,單純本底增大,一般不會出現信號跳動大的現象。


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